美國SCS離子污染測試儀是一種用于檢測電子元器件表面及其它高純度物質中的離子污染程度的專用設備。該儀器可以通過檢測樣品表面吸附的離子量來判斷樣品的離子污染程度，常被廣泛應用于半導體、電子、醫療器械等領域。
離子污染測試儀的工作原理是利用離子阱技術對空氣中的離子進行分離和收集，并對收集到的離子數目進行計數。在測試時，將樣品放入儀器中與其它標準樣品一同暴露在空氣中，經過一段時間后，將樣品表面的吸附離子收集，然后將其注入離子阱中進行計數和分析。
美國SCS離子污染測試儀的具體測試技巧：
將被測PCB浸入到再生后的萃取液中，在環境溫度為18～25℃，萃取液工作溫度為40±2℃，情況下，通過儀器加熱、攪拌、測試來進行離子污染程度的測試。測試分為攪拌和再生兩個過程。再生過程保證萃取液初始狀態為“清潔”，使萃取液電阻率達到測試條件（66MΩ-cm或50MΩ-cm），主要由離子交換柱完成。攪拌的目的是將印制板表面離子*萃取到萃取液中，使萃取液電導率達到一個穩定的狀態，由水箱回水口回水時沖擊攪拌。
在測試的開始時，系統的檢測器和記錄器會根據測試槽內初的離子含量建立一個基準數據，然后計算在測試的過程中增加的離子量，當所有的離子溶解入測試液中時，就可達到一個平衡的數值。在測試通孔的板時，這些操作大約需要5-10分鐘，測試SMD的板時，大約需要30-45分鐘。
測試結束后，后的離子含量水平，會編成一份微觀圖，包括NaCl/sq.inch、測試的參數以及根據設定的標準是否合格情況，在進行下一次測試之前，通過儀器內的除離子系統清潔測試液，從而達到再生的功能，并且建立新的基準水平。
